MEMS（Micro-Electro-Mechanical Systems）表面清潔度測試的標準和原理可以參考國際標準ISO-14644。該標準規(guī)定了在不同級別的潔凈度環(huán)境中所允許的粒子數(shù)量，并對清潔度測試的方法進行了詳細說明。具體原理如下：

清潔度測試需要在嚴格的潔凈環(huán)境中進行，以避免測試結果受到外界粒子的影響。測試時需要將MEMS樣品放置在被測試區(qū)域中，并通過某種手段（例如噴氣、氣流）將空氣中的粒子向樣品方向聚集，然后通過某種檢測方法（例如顯微鏡、粒子計數(shù)器）對聚集的粒子進行檢測和計數(shù)。

ISO-14644標準規(guī)定了不同潔凈度環(huán)境下允許的粒子數(shù)量限制，潔凈度等級越高，允許的粒子數(shù)量限制就越低。MEMS表面清潔度測試的標準通常以ISO-14644為基礎，結合具體的MEMS應用場景和要求進行制定，以保證MEMS的表面清潔度達到規(guī)定標準，從而提高MEMS器件的可靠性和穩(wěn)定性。

需要注意的是，不同的MEMS應用場景和要求可能會有不同的表面清潔度測試標準和方法，因此在進行測試之前需要根據(jù)具體情況進行制定，并確保測試結果的準確性和可靠性。