探針表面清潔度測試通常使用的標(biāo)準(zhǔn)包括 MIL-STD-883和IPC-9701。測試方法可以使用紅外顯微鏡、顯微攝影、顯微鏡、X射線衍射、掃描電子顯微鏡等。

原理上，探針表面清潔度測試主要是通過檢測探針表面的有機物、無機物或氧化物等殘留物的含量來評估其表面清潔度。一般來說，殘留物的含量越少，探針表面的清潔度就越高。常用的測試方法是通過對探針表面進行溶劑擦拭、超聲波清洗、離子清洗等方式進行表面清潔，并使用合適的分析儀器對殘留物的含量進行測試和分析。這些分析儀器可以對殘留物進行化學(xué)分析、物理分析和光學(xué)分析等。

扁線電機表面清潔度測試的標(biāo)準(zhǔn)和原理與其他電子元器件的表面清潔度測試相似，通常采用視覺檢查和粒子計數(shù)器等測試方法。

其中，視覺檢查可以通過人工目測或顯微鏡觀察來進行，檢查表面是否存在雜質(zhì)、污染和劃痕等，是否符合產(chǎn)品規(guī)格的要求。

粒子計數(shù)器則是通過檢測表面上的微粒數(shù)量和大小來評估表面清潔度的方法。常見的粒子計數(shù)器包括激光粒度分析儀、光學(xué)顆粒計數(shù)器等，這些設(shè)備可以檢測出表面上微米級別的顆粒和納米級別的顆粒。

對于扁線電機表面清潔度的測試，可以參考國際電工委員會（IEC）頒布的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，如IEC 60034-14和IEC 60034-15。具體測試方法和參數(shù)要求應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品規(guī)格和應(yīng)用要求進行調(diào)整和制定。